原理：利用被檢(jian)測產(chan)(chan)品中的(de)不同物(wu)料受(shou)X射(she)線(xian)照射(she)后的(de)吸收率(lv)不同，經由(you)探測器成(cheng)像并轉換成(cheng)圖像信息，其(qi)圖像表現為灰(hui)度圖像，不同物(wu)料或(huo)異(yi)物(wu)的(de)灰(hui)度不同，通過預設的(de)算法(fa)處理及(ji)圖形圖像技術分析后將異(yi)物(wu)從被檢(jian)測的(de)產(chan)(chan)品中分離出來，泰(tai)一明X光異(yi)物(wu)檢(jian)測機(ji)，基于(yu)實時系統獨(du)有的(de)高速(su)處理算法(fa)，集合韓國電子工業的(de)技術基礎(chu)而研制出的(de)高性(xing)能X射(she)線(xian)異(yi)物(wu)檢(jian)測機(ji)。