原理：利用被(bei)檢(jian)測(ce)產(chan)品中的不同物(wu)(wu)料受(shou)X射線(xian)照(zhao)射后的吸(xi)收率不同，經由(you)探測(ce)器成像(xiang)并轉換成圖(tu)像(xiang)信息，其圖(tu)像(xiang)表現(xian)為灰度圖(tu)像(xiang)，不同物(wu)(wu)料或異(yi)(yi)物(wu)(wu)的灰度不同，通過預設(she)的算(suan)法(fa)處(chu)理(li)及圖(tu)形圖(tu)像(xiang)技(ji)術分析后將(jiang)異(yi)(yi)物(wu)(wu)從(cong)被(bei)檢(jian)測(ce)的產(chan)品中分離出來，泰一明X光異(yi)(yi)物(wu)(wu)檢(jian)測(ce)機，基于實時系統(tong)獨(du)有(you)的高速處(chu)理(li)算(suan)法(fa)，集合韓(han)國(guo)電(dian)子工業的技(ji)術基礎(chu)而(er)研(yan)制(zhi)出的高性(xing)能X射線(xian)異(yi)(yi)物(wu)(wu)檢(jian)測(ce)機。