原理：利(li)用被(bei)檢(jian)測(ce)(ce)產品中(zhong)的不(bu)同(tong)物料受(shou)X射(she)線照射(she)后的吸收率不(bu)同(tong)，經由探測(ce)(ce)器成(cheng)像(xiang)(xiang)并轉換成(cheng)圖(tu)像(xiang)(xiang)信(xin)息，其圖(tu)像(xiang)(xiang)表現為灰(hui)度圖(tu)像(xiang)(xiang)，不(bu)同(tong)物料或異(yi)(yi)物的灰(hui)度不(bu)同(tong)，通過預設的算(suan)法(fa)處(chu)理(li)及(ji)圖(tu)形圖(tu)像(xiang)(xiang)技(ji)術分(fen)析后將異(yi)(yi)物從被(bei)檢(jian)測(ce)(ce)的產品中(zhong)分(fen)離(li)出來，泰(tai)一明X光異(yi)(yi)物檢(jian)測(ce)(ce)機(ji)，基(ji)于實時系統獨有的高速處(chu)理(li)算(suan)法(fa)，集合韓國(guo)電子工業的技(ji)術基(ji)礎而(er)研制出的高性能X射(she)線異(yi)(yi)物檢(jian)測(ce)(ce)機(ji)。