原理：利用被檢(jian)(jian)測(ce)(ce)產品中的(de)不同物(wu)料受X射(she)(she)線(xian)照射(she)(she)后的(de)吸收率不同，經(jing)由探測(ce)(ce)器成像并轉換成圖(tu)像信(xin)息(xi)，其圖(tu)像表(biao)現為(wei)灰度圖(tu)像，不同物(wu)料或異(yi)物(wu)的(de)灰度不同，通過(guo)預設(she)的(de)算法處(chu)理及圖(tu)形圖(tu)像技術分析后將異(yi)物(wu)從被檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)產品中分離出來，泰一(yi)明X光異(yi)物(wu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機(ji)，基于實時系統獨有的(de)高(gao)速(su)處(chu)理算法，集合韓國電子工業的(de)技術基礎而研制(zhi)出的(de)高(gao)性能X射(she)(she)線(xian)異(yi)物(wu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機(ji)。