原理：利(li)用被(bei)(bei)檢測(ce)產品(pin)中(zhong)的不(bu)同物料受X射線照射后(hou)的吸收率不(bu)同，經由探測(ce)器(qi)成(cheng)像(xiang)并轉換成(cheng)圖像(xiang)信息，其圖像(xiang)表現為灰(hui)度(du)圖像(xiang)，不(bu)同物料或異物的灰(hui)度(du)不(bu)同，通過預設的算法處理及圖形圖像(xiang)技(ji)術(shu)分析后(hou)將異物從被(bei)(bei)檢測(ce)的產品(pin)中(zhong)分離出來，泰(tai)一明(ming)X光異物檢測(ce)機，基于實時(shi)系(xi)統獨有的高速處理算法，集(ji)合韓(han)國電子工業的技(ji)術(shu)基礎而(er)研制(zhi)出的高性能X射線異物檢測(ce)機。