原理：利用被(bei)檢測(ce)(ce)產品(pin)中的(de)(de)(de)不(bu)同(tong)物(wu)料受X射(she)線照(zhao)射(she)后(hou)的(de)(de)(de)吸收率不(bu)同(tong)，經由探測(ce)(ce)器成(cheng)像(xiang)并轉換(huan)成(cheng)圖(tu)(tu)像(xiang)信息，其(qi)圖(tu)(tu)像(xiang)表(biao)現(xian)為(wei)灰度圖(tu)(tu)像(xiang)，不(bu)同(tong)物(wu)料或異物(wu)的(de)(de)(de)灰度不(bu)同(tong)，通過預設的(de)(de)(de)算法處(chu)理(li)及圖(tu)(tu)形(xing)圖(tu)(tu)像(xiang)技(ji)術分析(xi)后(hou)將異物(wu)從被(bei)檢測(ce)(ce)的(de)(de)(de)產品(pin)中分離出(chu)來，泰一(yi)明X光異物(wu)檢測(ce)(ce)機(ji)，基(ji)于實(shi)時系統獨有的(de)(de)(de)高速處(chu)理(li)算法，集合(he)韓國電子(zi)工(gong)業(ye)的(de)(de)(de)技(ji)術基(ji)礎而研制出(chu)的(de)(de)(de)高性能(neng)X射(she)線異物(wu)檢測(ce)(ce)機(ji)。