原理：利用被檢測(ce)產品中的(de)(de)不(bu)同(tong)物(wu)料(liao)受(shou)X射線(xian)照射后(hou)的(de)(de)吸收率不(bu)同(tong)，經(jing)由探測(ce)器(qi)成像并轉換(huan)成圖(tu)像信(xin)息(xi)，其(qi)圖(tu)像表現為灰度(du)圖(tu)像，不(bu)同(tong)物(wu)料(liao)或異物(wu)的(de)(de)灰度(du)不(bu)同(tong)，通過預設的(de)(de)算法處理及圖(tu)形圖(tu)像技術分析(xi)后(hou)將異物(wu)從(cong)被檢測(ce)的(de)(de)產品中分離出(chu)來，泰一明X光異物(wu)檢測(ce)機，基于實時(shi)系統獨有的(de)(de)高速處理算法，集合韓國電子工(gong)業的(de)(de)技術基礎(chu)而研(yan)制(zhi)出(chu)的(de)(de)高性(xing)能X射線(xian)異物(wu)檢測(ce)機。