原理：利用被(bei)(bei)檢(jian)(jian)測(ce)產(chan)品中的(de)(de)不(bu)(bu)同(tong)(tong)物(wu)料(liao)受(shou)X射線(xian)照射后的(de)(de)吸(xi)收率不(bu)(bu)同(tong)(tong)，經由探測(ce)器(qi)成像(xiang)并轉換成圖像(xiang)信息(xi)，其(qi)圖像(xiang)表現為灰度圖像(xiang)，不(bu)(bu)同(tong)(tong)物(wu)料(liao)或異物(wu)的(de)(de)灰度不(bu)(bu)同(tong)(tong)，通(tong)過預設的(de)(de)算法處(chu)理及圖形(xing)圖像(xiang)技術分析后將異物(wu)從被(bei)(bei)檢(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)產(chan)品中分離出來(lai)，泰一(yi)明X光異物(wu)檢(jian)(jian)測(ce)機，基于(yu)實時系(xi)統獨有的(de)(de)高(gao)速處(chu)理算法，集合韓國(guo)電子工業的(de)(de)技術基礎(chu)而研制(zhi)出的(de)(de)高(gao)性能X射線(xian)異物(wu)檢(jian)(jian)測(ce)機。