原理：利用被檢(jian)測產(chan)品中(zhong)的(de)(de)不(bu)同物(wu)料受X射線照射后的(de)(de)吸收率不(bu)同，經由探測器成(cheng)像(xiang)(xiang)并轉換成(cheng)圖像(xiang)(xiang)信息，其圖像(xiang)(xiang)表(biao)現為灰度圖像(xiang)(xiang)，不(bu)同物(wu)料或異(yi)物(wu)的(de)(de)灰度不(bu)同，通過預設的(de)(de)算(suan)法(fa)處理及(ji)圖形圖像(xiang)(xiang)技(ji)術(shu)分析(xi)后將(jiang)異(yi)物(wu)從被檢(jian)測的(de)(de)產(chan)品中(zhong)分離(li)出來，泰(tai)一明(ming)X光異(yi)物(wu)檢(jian)測機(ji)，基(ji)(ji)于實(shi)時系統獨(du)有(you)的(de)(de)高(gao)速處理算(suan)法(fa)，集合韓國電(dian)子(zi)工業的(de)(de)技(ji)術(shu)基(ji)(ji)礎(chu)而(er)研(yan)制(zhi)出的(de)(de)高(gao)性(xing)能X射線異(yi)物(wu)檢(jian)測機(ji)。