原理：利用被檢(jian)(jian)測(ce)(ce)產(chan)品中的(de)不(bu)同(tong)(tong)物(wu)料(liao)受X射線照射后的(de)吸收率不(bu)同(tong)(tong)，經由探測(ce)(ce)器成像并轉換(huan)成圖像信息，其圖像表現為灰(hui)度(du)圖像，不(bu)同(tong)(tong)物(wu)料(liao)或異(yi)物(wu)的(de)灰(hui)度(du)不(bu)同(tong)(tong)，通過預(yu)設的(de)算法處理及圖形圖像技術分析后將(jiang)異(yi)物(wu)從被檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)產(chan)品中分離(li)出來(lai)，泰(tai)一(yi)明X光異(yi)物(wu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機(ji)，基(ji)于實時系統獨(du)有的(de)高(gao)速處理算法，集合韓(han)國電(dian)子工(gong)業的(de)技術基(ji)礎而(er)研(yan)制出的(de)高(gao)性能X射線異(yi)物(wu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機(ji)。