原理：利(li)用被檢測(ce)(ce)(ce)產品中的(de)不同(tong)物料(liao)受(shou)X射(she)(she)線照射(she)(she)后的(de)吸收率不同(tong)，經由(you)探測(ce)(ce)(ce)器成像(xiang)并轉換成圖(tu)像(xiang)信息，其圖(tu)像(xiang)表現為灰(hui)度圖(tu)像(xiang)，不同(tong)物料(liao)或異物的(de)灰(hui)度不同(tong)，通過預設的(de)算法(fa)處(chu)理及圖(tu)形(xing)圖(tu)像(xiang)技術(shu)(shu)分析后將異物從被檢測(ce)(ce)(ce)的(de)產品中分離出來(lai)，泰一明X光(guang)異物檢測(ce)(ce)(ce)機(ji)，基于(yu)實時系統獨有的(de)高(gao)速處(chu)理算法(fa)，集合韓國(guo)電子(zi)工業的(de)技術(shu)(shu)基礎(chu)而研制出的(de)高(gao)性(xing)能X射(she)(she)線異物檢測(ce)(ce)(ce)機(ji)。