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（86）
原理：利用被檢(jian)測(ce)產品中(zhong)的不同(tong)物(wu)料受X射(she)(she)線(xian)(xian)照射(she)(she)后的吸(xi)收率(lv)不同(tong)，經(jing)由(you)探測(ce)器(qi)成像并轉(zhuan)換成圖像信息，其圖像表現為(wei)灰度圖像，不同(tong)物(wu)料或(huo)異(yi)(yi)(yi)物(wu)的灰度不同(tong)，通(tong)過預設的算(suan)(suan)法(fa)處(chu)理及圖形圖像技(ji)術分析后將異(yi)(yi)(yi)物(wu)從被檢(jian)測(ce)的產品中(zhong)分離出(chu)來，泰一明X光異(yi)(yi)(yi)物(wu)檢(jian)測(ce)機，基(ji)于實時系(xi)統獨有的高(gao)速處(chu)理算(suan)(suan)法(fa)，集合(he)韓國電子工(gong)業的技(ji)術基(ji)礎(chu)而(er)研制出(chu)的高(gao)性能X射(she)(she)線(xian)(xian)異(yi)(yi)(yi)物(wu)檢(jian)測(ce)機。
