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（86）
原理：利(li)用被(bei)檢測(ce)(ce)(ce)產(chan)品(pin)中的(de)不同(tong)物料受X射(she)線照射(she)后的(de)吸收率不同(tong)，經(jing)由探測(ce)(ce)(ce)器(qi)成像(xiang)(xiang)并轉(zhuan)換成圖(tu)像(xiang)(xiang)信(xin)息，其圖(tu)像(xiang)(xiang)表現為灰度圖(tu)像(xiang)(xiang)，不同(tong)物料或異物的(de)灰度不同(tong)，通過預設的(de)算(suan)法處(chu)理(li)(li)及圖(tu)形(xing)圖(tu)像(xiang)(xiang)技術分(fen)析(xi)后將異物從被(bei)檢測(ce)(ce)(ce)的(de)產(chan)品(pin)中分(fen)離出(chu)來，泰一明X光異物檢測(ce)(ce)(ce)機，基(ji)于實時系統獨有的(de)高(gao)速處(chu)理(li)(li)算(suan)法，集(ji)合韓國(guo)電子工業(ye)的(de)技術基(ji)礎而(er)研制(zhi)出(chu)的(de)高(gao)性(xing)能X射(she)線異物檢測(ce)(ce)(ce)機。
