原理：利用被檢測(ce)產品中(zhong)的(de)(de)不同(tong)物(wu)(wu)(wu)料受X射線(xian)照射后的(de)(de)吸收率不同(tong)，經由探測(ce)器成像(xiang)(xiang)并轉換成圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)信息(xi)，其圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)表現為灰(hui)度圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)，不同(tong)物(wu)(wu)(wu)料或異(yi)物(wu)(wu)(wu)的(de)(de)灰(hui)度不同(tong)，通過預設的(de)(de)算(suan)法(fa)處理及(ji)圖(tu)(tu)形圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)技術分析(xi)后將異(yi)物(wu)(wu)(wu)從被檢測(ce)的(de)(de)產品中(zhong)分離出(chu)來(lai)，泰一明X光異(yi)物(wu)(wu)(wu)檢測(ce)機(ji)，基于實時系統獨有的(de)(de)高速處理算(suan)法(fa)，集合韓國電子工(gong)業(ye)的(de)(de)技術基礎而研制出(chu)的(de)(de)高性能X射線(xian)異(yi)物(wu)(wu)(wu)檢測(ce)機(ji)。