原理：利(li)用(yong)被檢(jian)測(ce)產品中的(de)(de)(de)(de)不(bu)同(tong)(tong)物(wu)料受X射(she)線照射(she)后(hou)的(de)(de)(de)(de)吸收率不(bu)同(tong)(tong)，經(jing)由探測(ce)器成像(xiang)并轉換成圖(tu)像(xiang)信息，其(qi)圖(tu)像(xiang)表(biao)現為灰(hui)度圖(tu)像(xiang)，不(bu)同(tong)(tong)物(wu)料或異物(wu)的(de)(de)(de)(de)灰(hui)度不(bu)同(tong)(tong)，通過(guo)預設的(de)(de)(de)(de)算法(fa)處理(li)及圖(tu)形圖(tu)像(xiang)技術分(fen)析后(hou)將異物(wu)從被檢(jian)測(ce)的(de)(de)(de)(de)產品中分(fen)離出(chu)來，泰一(yi)明X光(guang)異物(wu)檢(jian)測(ce)機，基于(yu)實時系統(tong)獨有的(de)(de)(de)(de)高(gao)速(su)處理(li)算法(fa)，集合韓國電子(zi)工業的(de)(de)(de)(de)技術基礎而研制出(chu)的(de)(de)(de)(de)高(gao)性能X射(she)線異物(wu)檢(jian)測(ce)機。