原理：利用(yong)被檢測(ce)(ce)產(chan)品中的不(bu)同物(wu)料(liao)受X射(she)線(xian)照射(she)后(hou)的吸收率(lv)不(bu)同，經(jing)由探測(ce)(ce)器成(cheng)像(xiang)并轉換成(cheng)圖像(xiang)信(xin)息，其圖像(xiang)表(biao)現為灰度(du)圖像(xiang)，不(bu)同物(wu)料(liao)或異物(wu)的灰度(du)不(bu)同，通過預設的算法(fa)處理及圖形圖像(xiang)技術分析(xi)后(hou)將異物(wu)從被檢測(ce)(ce)的產(chan)品中分離出(chu)來，泰(tai)一(yi)明X光(guang)異物(wu)檢測(ce)(ce)機，基于實時(shi)系統獨有的高速處理算法(fa)，集合韓國電子(zi)工業的技術基礎而研制出(chu)的高性能X射(she)線(xian)異物(wu)檢測(ce)(ce)機。