原理：利用(yong)被檢測(ce)(ce)產品中的(de)(de)不(bu)同物(wu)(wu)(wu)料受X射(she)線照射(she)后(hou)的(de)(de)吸收率不(bu)同，經(jing)由探測(ce)(ce)器(qi)成像(xiang)(xiang)并轉(zhuan)換成圖像(xiang)(xiang)信息，其圖像(xiang)(xiang)表(biao)現(xian)為灰度圖像(xiang)(xiang)，不(bu)同物(wu)(wu)(wu)料或異物(wu)(wu)(wu)的(de)(de)灰度不(bu)同，通過預設的(de)(de)算法處理及圖形圖像(xiang)(xiang)技(ji)術分析后(hou)將異物(wu)(wu)(wu)從被檢測(ce)(ce)的(de)(de)產品中分離(li)出來，泰一明X光(guang)異物(wu)(wu)(wu)檢測(ce)(ce)機，基于實時系統獨(du)有(you)的(de)(de)高(gao)速處理算法，集(ji)合韓國(guo)電子工業(ye)的(de)(de)技(ji)術基礎(chu)而研制出的(de)(de)高(gao)性能X射(she)線異物(wu)(wu)(wu)檢測(ce)(ce)機。