原理：利用(yong)被檢(jian)(jian)測產品(pin)中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)不同物(wu)料(liao)受X射線照射后的(de)(de)(de)吸收(shou)率(lv)不同，經(jing)由探測器成像并轉(zhuan)換成圖(tu)像信(xin)息，其圖(tu)像表(biao)現為灰度(du)圖(tu)像，不同物(wu)料(liao)或異(yi)(yi)物(wu)的(de)(de)(de)灰度(du)不同，通過預設的(de)(de)(de)算法(fa)處理及圖(tu)形圖(tu)像技術(shu)分析后將異(yi)(yi)物(wu)從(cong)被檢(jian)(jian)測的(de)(de)(de)產品(pin)中(zhong)(zhong)分離出(chu)來，泰一明(ming)X光(guang)異(yi)(yi)物(wu)檢(jian)(jian)測機(ji)，基(ji)(ji)于實(shi)時系(xi)統獨(du)有的(de)(de)(de)高速處理算法(fa)，集合韓國電子工(gong)業的(de)(de)(de)技術(shu)基(ji)(ji)礎而研制(zhi)出(chu)的(de)(de)(de)高性能X射線異(yi)(yi)物(wu)檢(jian)(jian)測機(ji)。