原理：利用被檢測(ce)(ce)產品中的(de)(de)不(bu)同物料(liao)受(shou)X射線照射后(hou)的(de)(de)吸收(shou)率不(bu)同，經由探(tan)測(ce)(ce)器成像并轉換(huan)成圖(tu)(tu)像信息，其圖(tu)(tu)像表現(xian)為灰(hui)度(du)圖(tu)(tu)像，不(bu)同物料(liao)或(huo)異(yi)物的(de)(de)灰(hui)度(du)不(bu)同，通過預(yu)設的(de)(de)算(suan)法(fa)處理及(ji)圖(tu)(tu)形圖(tu)(tu)像技術分析后(hou)將異(yi)物從被檢測(ce)(ce)的(de)(de)產品中分離出來，泰一(yi)明(ming)X光異(yi)物檢測(ce)(ce)機(ji)，基(ji)于實時系統獨(du)有的(de)(de)高(gao)速處理算(suan)法(fa)，集(ji)合韓(han)國電(dian)子(zi)工業的(de)(de)技術基(ji)礎而研制出的(de)(de)高(gao)性能X射線異(yi)物檢測(ce)(ce)機(ji)。