原理：利用被(bei)(bei)檢(jian)測產(chan)品(pin)中的不同(tong)(tong)(tong)物料(liao)受(shou)X射(she)線照(zhao)射(she)后的吸收(shou)率不同(tong)(tong)(tong)，經由探測器成(cheng)像并轉換(huan)成(cheng)圖(tu)像信息，其圖(tu)像表現(xian)為灰度(du)(du)圖(tu)像，不同(tong)(tong)(tong)物料(liao)或異(yi)(yi)物的灰度(du)(du)不同(tong)(tong)(tong)，通過預設的算法處(chu)理及圖(tu)形(xing)圖(tu)像技術分(fen)析后將異(yi)(yi)物從被(bei)(bei)檢(jian)測的產(chan)品(pin)中分(fen)離出來(lai)，泰一(yi)明X光(guang)異(yi)(yi)物檢(jian)測機(ji)，基于實時(shi)系(xi)統獨有(you)的高速處(chu)理算法，集合韓(han)國電(dian)子工業的技術基礎(chu)而(er)研制(zhi)出的高性(xing)能X射(she)線異(yi)(yi)物檢(jian)測機(ji)。