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（86）
原理：利用(yong)被檢(jian)測產品中的(de)(de)不同(tong)物料受X射(she)線照射(she)后(hou)的(de)(de)吸收(shou)率(lv)不同(tong)，經由探(tan)測器成像(xiang)并轉換成圖(tu)像(xiang)信息，其圖(tu)像(xiang)表現(xian)為(wei)灰度圖(tu)像(xiang)，不同(tong)物料或異物的(de)(de)灰度不同(tong)，通(tong)過預設的(de)(de)算(suan)法處理及圖(tu)形圖(tu)像(xiang)技(ji)術分(fen)析后(hou)將異物從(cong)被檢(jian)測的(de)(de)產品中分(fen)離出(chu)來，泰一明X光(guang)異物檢(jian)測機，基于實時系(xi)統獨有的(de)(de)高速處理算(suan)法，集合韓國電子工業(ye)的(de)(de)技(ji)術基礎(chu)而(er)研制(zhi)出(chu)的(de)(de)高性能(neng)X射(she)線異物檢(jian)測機。
