原理：利用被(bei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)產品(pin)中的(de)不(bu)同(tong)物(wu)(wu)料受(shou)X射(she)線(xian)照射(she)后的(de)吸收(shou)率不(bu)同(tong)，經由探(tan)測(ce)(ce)器成(cheng)像并轉(zhuan)換成(cheng)圖(tu)(tu)像信息，其圖(tu)(tu)像表(biao)現為灰度圖(tu)(tu)像，不(bu)同(tong)物(wu)(wu)料或異(yi)物(wu)(wu)的(de)灰度不(bu)同(tong)，通過預(yu)設的(de)算法(fa)處(chu)理(li)及圖(tu)(tu)形圖(tu)(tu)像技(ji)術分析(xi)后將(jiang)異(yi)物(wu)(wu)從(cong)被(bei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)產品(pin)中分離(li)出來(lai)，泰(tai)一明(ming)X光異(yi)物(wu)(wu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機(ji)(ji)，基于實時系統獨有(you)的(de)高速處(chu)理(li)算法(fa)，集合韓國電子(zi)工業(ye)的(de)技(ji)術基礎而研制(zhi)出的(de)高性能X射(she)線(xian)異(yi)物(wu)(wu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機(ji)(ji)。