原理：利用被檢(jian)(jian)(jian)測產品中(zhong)的(de)不同物(wu)料(liao)受X射(she)線照(zhao)射(she)后的(de)吸收率不同，經由探測器成像并轉換成圖像信息，其圖像表現為灰(hui)度圖像，不同物(wu)料(liao)或異物(wu)的(de)灰(hui)度不同，通過(guo)預設的(de)算法處(chu)理及圖形圖像技術分(fen)析后將異物(wu)從被檢(jian)(jian)(jian)測的(de)產品中(zhong)分(fen)離出(chu)(chu)來，泰一明X光異物(wu)檢(jian)(jian)(jian)測機，基(ji)(ji)于實時系統獨有的(de)高(gao)速(su)處(chu)理算法，集合韓國電子工業的(de)技術基(ji)(ji)礎而研(yan)制出(chu)(chu)的(de)高(gao)性能X射(she)線異物(wu)檢(jian)(jian)(jian)測機。