原理：利用被檢(jian)測(ce)產品中(zhong)(zhong)的不同(tong)物(wu)(wu)料受X射(she)線(xian)(xian)照射(she)后的吸收率不同(tong)，經由探測(ce)器成像(xiang)并(bing)轉換成圖(tu)像(xiang)信息，其圖(tu)像(xiang)表現(xian)為灰(hui)度圖(tu)像(xiang)，不同(tong)物(wu)(wu)料或異(yi)(yi)物(wu)(wu)的灰(hui)度不同(tong)，通過預設(she)的算法處理(li)及圖(tu)形圖(tu)像(xiang)技(ji)術(shu)分(fen)析后將異(yi)(yi)物(wu)(wu)從被檢(jian)測(ce)的產品中(zhong)(zhong)分(fen)離(li)出來，泰一明(ming)X光異(yi)(yi)物(wu)(wu)檢(jian)測(ce)機，基于實(shi)時(shi)系統(tong)獨有的高速處理(li)算法，集合韓(han)國電子工業的技(ji)術(shu)基礎而研(yan)制(zhi)出的高性能(neng)X射(she)線(xian)(xian)異(yi)(yi)物(wu)(wu)檢(jian)測(ce)機。