原理：利用被(bei)檢測(ce)(ce)(ce)產(chan)品(pin)中的(de)(de)不同(tong)(tong)物料受X射(she)線照射(she)后的(de)(de)吸收率不同(tong)(tong)，經由探(tan)測(ce)(ce)(ce)器成像并轉換(huan)成圖像信息，其圖像表現為灰度(du)圖像，不同(tong)(tong)物料或異(yi)物的(de)(de)灰度(du)不同(tong)(tong)，通過預設的(de)(de)算(suan)法處理及圖形(xing)圖像技術分析后將異(yi)物從被(bei)檢測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)產(chan)品(pin)中分離(li)出來，泰(tai)一明(ming)X光異(yi)物檢測(ce)(ce)(ce)機(ji)(ji)，基于實時系統獨有(you)的(de)(de)高速處理算(suan)法，集(ji)合韓國電子工業的(de)(de)技術基礎而研制出的(de)(de)高性能(neng)X射(she)線異(yi)物檢測(ce)(ce)(ce)機(ji)(ji)。