原理：利用(yong)被檢測產品(pin)中的(de)不(bu)(bu)同物(wu)料受(shou)X射線(xian)照(zhao)射后的(de)吸收率不(bu)(bu)同，經由探測器成像(xiang)(xiang)并轉換成圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)信息，其圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)表現為灰(hui)度圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)，不(bu)(bu)同物(wu)料或異物(wu)的(de)灰(hui)度不(bu)(bu)同，通過預設的(de)算法處理及圖(tu)(tu)形圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)技術分析(xi)后將異物(wu)從被檢測的(de)產品(pin)中分離(li)出來，泰(tai)一(yi)明X光異物(wu)檢測機(ji)，基(ji)于實時系統獨有的(de)高速處理算法，集合韓國(guo)電子(zi)工業的(de)技術基(ji)礎而研(yan)制出的(de)高性能X射線(xian)異物(wu)檢測機(ji)。