原理：利用被(bei)檢測(ce)產品中的(de)不同(tong)物料受(shou)X射(she)線(xian)照射(she)后的(de)吸收率(lv)不同(tong)，經由探測(ce)器成像并轉(zhuan)換成圖(tu)像信息(xi)，其圖(tu)像表現為灰(hui)度圖(tu)像，不同(tong)物料或異(yi)物的(de)灰(hui)度不同(tong)，通過預設(she)的(de)算(suan)法(fa)處理(li)(li)及圖(tu)形圖(tu)像技術分析后將異(yi)物從被(bei)檢測(ce)的(de)產品中分離出(chu)來，泰一明(ming)X光異(yi)物檢測(ce)機(ji)(ji)，基于實(shi)時系統獨有的(de)高(gao)速處理(li)(li)算(suan)法(fa)，集合韓國電子(zi)工(gong)業的(de)技術基礎而研制出(chu)的(de)高(gao)性能X射(she)線(xian)異(yi)物檢測(ce)機(ji)(ji)。