原理：利(li)用(yong)被檢(jian)測產(chan)品中的(de)不(bu)同(tong)物(wu)料(liao)受X射(she)線(xian)照射(she)后(hou)(hou)的(de)吸收率不(bu)同(tong)，經由探測器成(cheng)像(xiang)并轉換成(cheng)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)信息，其(qi)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)表現為灰(hui)度(du)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)，不(bu)同(tong)物(wu)料(liao)或(huo)異物(wu)的(de)灰(hui)度(du)不(bu)同(tong)，通過預(yu)設的(de)算法(fa)處理及圖(tu)(tu)(tu)形圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)技術(shu)分(fen)析(xi)后(hou)(hou)將異物(wu)從被檢(jian)測的(de)產(chan)品中分(fen)離出來，泰一(yi)明X光異物(wu)檢(jian)測機，基于實時系統獨有的(de)高(gao)速處理算法(fa)，集(ji)合韓國電(dian)子(zi)工業(ye)的(de)技術(shu)基礎而研制出的(de)高(gao)性(xing)能(neng)X射(she)線(xian)異物(wu)檢(jian)測機。