原理：利用被檢測產(chan)品中的(de)(de)不(bu)同(tong)物料受X射(she)線照(zhao)射(she)后的(de)(de)吸收率不(bu)同(tong)，經由探測器成像(xiang)(xiang)并轉換(huan)成圖像(xiang)(xiang)信息，其圖像(xiang)(xiang)表現為灰(hui)度(du)圖像(xiang)(xiang)，不(bu)同(tong)物料或異(yi)(yi)物的(de)(de)灰(hui)度(du)不(bu)同(tong)，通過預設的(de)(de)算(suan)法處理及(ji)圖形圖像(xiang)(xiang)技(ji)術分析后將異(yi)(yi)物從被檢測的(de)(de)產(chan)品中分離出(chu)來(lai)，泰一明X光(guang)異(yi)(yi)物檢測機，基(ji)于實(shi)時系統獨有的(de)(de)高(gao)速(su)處理算(suan)法，集合韓國電子工業的(de)(de)技(ji)術基(ji)礎(chu)而研制(zhi)出(chu)的(de)(de)高(gao)性能X射(she)線異(yi)(yi)物檢測機。