原理：利(li)用(yong)被檢測產品(pin)中(zhong)的(de)(de)(de)不同(tong)物(wu)(wu)(wu)(wu)料(liao)受X射(she)線(xian)照射(she)后的(de)(de)(de)吸收率不同(tong)，經由探測器成像(xiang)并轉(zhuan)換成圖(tu)像(xiang)信息，其圖(tu)像(xiang)表現為灰度圖(tu)像(xiang)，不同(tong)物(wu)(wu)(wu)(wu)料(liao)或異(yi)(yi)物(wu)(wu)(wu)(wu)的(de)(de)(de)灰度不同(tong)，通過預設的(de)(de)(de)算法(fa)處(chu)(chu)理及圖(tu)形圖(tu)像(xiang)技(ji)術分(fen)析后將異(yi)(yi)物(wu)(wu)(wu)(wu)從被檢測的(de)(de)(de)產品(pin)中(zhong)分(fen)離出來，泰一(yi)明(ming)X光異(yi)(yi)物(wu)(wu)(wu)(wu)檢測機，基(ji)于實(shi)時系統獨(du)有的(de)(de)(de)高速處(chu)(chu)理算法(fa)，集(ji)合韓國電子工業的(de)(de)(de)技(ji)術基(ji)礎而研制出的(de)(de)(de)高性能X射(she)線(xian)異(yi)(yi)物(wu)(wu)(wu)(wu)檢測機。