原理：利用被(bei)(bei)檢(jian)測產(chan)品中的不同(tong)物(wu)(wu)(wu)料(liao)受X射線照射后的吸(xi)收率不同(tong)，經(jing)由探測器成像(xiang)(xiang)(xiang)并(bing)轉換成圖像(xiang)(xiang)(xiang)信息，其圖像(xiang)(xiang)(xiang)表現(xian)為灰度圖像(xiang)(xiang)(xiang)，不同(tong)物(wu)(wu)(wu)料(liao)或異(yi)物(wu)(wu)(wu)的灰度不同(tong)，通(tong)過預設的算(suan)法處理及圖形圖像(xiang)(xiang)(xiang)技(ji)術分(fen)析(xi)后將(jiang)異(yi)物(wu)(wu)(wu)從被(bei)(bei)檢(jian)測的產(chan)品中分(fen)離出來，泰一明X光異(yi)物(wu)(wu)(wu)檢(jian)測機，基于實時系統獨有(you)的高速處理算(suan)法，集(ji)合韓(han)國電子工業的技(ji)術基礎而(er)研(yan)制出的高性能(neng)X射線異(yi)物(wu)(wu)(wu)檢(jian)測機。