原理：利用被檢(jian)(jian)測產(chan)品(pin)中的(de)(de)不同(tong)(tong)物(wu)料受X射線(xian)照(zhao)射后的(de)(de)吸收率不同(tong)(tong)，經由探(tan)測器成(cheng)像并(bing)轉(zhuan)換成(cheng)圖(tu)像信息(xi)，其圖(tu)像表現為(wei)灰度(du)圖(tu)像，不同(tong)(tong)物(wu)料或異物(wu)的(de)(de)灰度(du)不同(tong)(tong)，通過(guo)預設的(de)(de)算法(fa)處理及圖(tu)形圖(tu)像技(ji)術分析后將(jiang)異物(wu)從被檢(jian)(jian)測的(de)(de)產(chan)品(pin)中分離出(chu)來，泰一明X光異物(wu)檢(jian)(jian)測機(ji)，基于實時系統獨有的(de)(de)高速處理算法(fa)，集合(he)韓國電(dian)子工業(ye)的(de)(de)技(ji)術基礎(chu)而研制出(chu)的(de)(de)高性能X射線(xian)異物(wu)檢(jian)(jian)測機(ji)。