原理：利(li)用(yong)被(bei)檢測(ce)(ce)產品(pin)中的(de)不(bu)同(tong)(tong)物(wu)料受X射線(xian)照射后的(de)吸收率不(bu)同(tong)(tong)，經由探測(ce)(ce)器成像(xiang)并轉(zhuan)換成圖(tu)(tu)像(xiang)信息，其圖(tu)(tu)像(xiang)表(biao)現為灰(hui)度圖(tu)(tu)像(xiang)，不(bu)同(tong)(tong)物(wu)料或異物(wu)的(de)灰(hui)度不(bu)同(tong)(tong)，通過預設的(de)算法(fa)(fa)處理及圖(tu)(tu)形(xing)圖(tu)(tu)像(xiang)技術分析后將異物(wu)從被(bei)檢測(ce)(ce)的(de)產品(pin)中分離(li)出(chu)來，泰一明X光(guang)異物(wu)檢測(ce)(ce)機(ji)，基于實時系統獨(du)有的(de)高速處理算法(fa)(fa)，集合韓國(guo)電子工業的(de)技術基礎而研制(zhi)出(chu)的(de)高性能X射線(xian)異物(wu)檢測(ce)(ce)機(ji)。