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（86）
原理：利(li)用被(bei)檢測產(chan)品中的(de)(de)不(bu)同(tong)物(wu)(wu)(wu)料受X射(she)線(xian)照(zhao)射(she)后的(de)(de)吸收率不(bu)同(tong)，經由探測器成像并轉換(huan)成圖(tu)像信息，其圖(tu)像表(biao)現為灰度圖(tu)像，不(bu)同(tong)物(wu)(wu)(wu)料或(huo)異(yi)物(wu)(wu)(wu)的(de)(de)灰度不(bu)同(tong)，通(tong)過預設的(de)(de)算(suan)法處理及圖(tu)形圖(tu)像技(ji)術分析(xi)后將異(yi)物(wu)(wu)(wu)從被(bei)檢測的(de)(de)產(chan)品中分離出來，泰一明X光異(yi)物(wu)(wu)(wu)檢測機(ji)，基于實(shi)時系統獨有的(de)(de)高(gao)速(su)處理算(suan)法，集合韓國電子工業的(de)(de)技(ji)術基礎(chu)而研(yan)制出的(de)(de)高(gao)性(xing)能X射(she)線(xian)異(yi)物(wu)(wu)(wu)檢測機(ji)。
