原理：利用被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)產品(pin)中(zhong)的(de)(de)不同物料受X射線照射后的(de)(de)吸(xi)收率不同，經由探測(ce)(ce)器成像并轉換成圖(tu)像信息，其圖(tu)像表現為(wei)灰(hui)度(du)圖(tu)像，不同物料或異(yi)物的(de)(de)灰(hui)度(du)不同，通(tong)過預設(she)的(de)(de)算法(fa)(fa)處理及圖(tu)形圖(tu)像技術(shu)分(fen)析后將異(yi)物從被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)產品(pin)中(zhong)分(fen)離出來(lai)，泰一明X光異(yi)物檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)機，基于實時系統(tong)獨(du)有的(de)(de)高速處理算法(fa)(fa)，集合韓(han)國(guo)電子工業的(de)(de)技術(shu)基礎而研制出的(de)(de)高性能(neng)X射線異(yi)物檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)機。