原理：利用(yong)被檢測(ce)產品中的(de)不(bu)同物料(liao)受(shou)X射(she)線照(zhao)射(she)后的(de)吸收率不(bu)同，經(jing)由探測(ce)器(qi)成(cheng)像并轉換成(cheng)圖(tu)像信息，其圖(tu)像表現為灰度圖(tu)像，不(bu)同物料(liao)或異物的(de)灰度不(bu)同，通過預(yu)設的(de)算(suan)法處理及圖(tu)形圖(tu)像技術(shu)分析后將異物從被檢測(ce)的(de)產品中分離出來，泰一明X光異物檢測(ce)機(ji)，基于(yu)實(shi)時系統獨有的(de)高速處理算(suan)法，集合(he)韓國電(dian)子工業(ye)的(de)技術(shu)基礎而研制出的(de)高性(xing)能X射(she)線異物檢測(ce)機(ji)。