原理：利(li)用被檢(jian)測(ce)產品(pin)中的(de)(de)不同(tong)(tong)物(wu)料受X射線照射后(hou)的(de)(de)吸(xi)收率(lv)不同(tong)(tong)，經由探測(ce)器成像(xiang)(xiang)并轉換成圖(tu)像(xiang)(xiang)信(xin)息，其(qi)圖(tu)像(xiang)(xiang)表現為灰度圖(tu)像(xiang)(xiang)，不同(tong)(tong)物(wu)料或異(yi)物(wu)的(de)(de)灰度不同(tong)(tong)，通過預設的(de)(de)算(suan)法處理(li)及圖(tu)形圖(tu)像(xiang)(xiang)技術分析(xi)后(hou)將異(yi)物(wu)從被檢(jian)測(ce)的(de)(de)產品(pin)中分離出(chu)來，泰一(yi)明X光異(yi)物(wu)檢(jian)測(ce)機(ji)，基于(yu)實(shi)時系統獨有的(de)(de)高速處理(li)算(suan)法，集(ji)合(he)韓(han)國電子工業的(de)(de)技術基礎而(er)研制出(chu)的(de)(de)高性能X射線異(yi)物(wu)檢(jian)測(ce)機(ji)。