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原理：利用被(bei)檢(jian)測產品中的(de)(de)不(bu)(bu)同物(wu)料受(shou)X射線照射后的(de)(de)吸收率不(bu)(bu)同，經由(you)探測器成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)并(bing)轉換成(cheng)(cheng)圖像(xiang)(xiang)(xiang)信息(xi)，其圖像(xiang)(xiang)(xiang)表現為灰(hui)度圖像(xiang)(xiang)(xiang)，不(bu)(bu)同物(wu)料或異物(wu)的(de)(de)灰(hui)度不(bu)(bu)同，通過預(yu)設的(de)(de)算(suan)法處理(li)及圖形(xing)圖像(xiang)(xiang)(xiang)技術分析(xi)后將異物(wu)從被(bei)檢(jian)測的(de)(de)產品中分離出來，泰一明X光異物(wu)檢(jian)測機，基(ji)于(yu)實時系統獨有的(de)(de)高(gao)速處理(li)算(suan)法，集(ji)合韓國(guo)電子工業(ye)的(de)(de)技術基(ji)礎而研制(zhi)出的(de)(de)高(gao)性能X射線異物(wu)檢(jian)測機。
