原理：利用(yong)被檢測產品中的(de)(de)不同物(wu)料(liao)受(shou)X射線照射后的(de)(de)吸(xi)收率不同，經由探(tan)測器成像并(bing)轉換成圖(tu)(tu)像信息，其圖(tu)(tu)像表現為(wei)灰(hui)度圖(tu)(tu)像，不同物(wu)料(liao)或異(yi)物(wu)的(de)(de)灰(hui)度不同，通過預設的(de)(de)算(suan)法處理及圖(tu)(tu)形(xing)圖(tu)(tu)像技術(shu)(shu)分析(xi)后將異(yi)物(wu)從被檢測的(de)(de)產品中分離出來，泰(tai)一(yi)明X光(guang)異(yi)物(wu)檢測機(ji)，基于實時系統獨(du)有的(de)(de)高速處理算(suan)法，集(ji)合(he)韓國電(dian)子(zi)工(gong)業的(de)(de)技術(shu)(shu)基礎而研制出的(de)(de)高性能X射線異(yi)物(wu)檢測機(ji)。