原理：利(li)用被(bei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)產(chan)品(pin)中的(de)(de)不(bu)同物(wu)料(liao)(liao)受X射線(xian)照(zhao)射后(hou)的(de)(de)吸收率不(bu)同，經(jing)由探測(ce)(ce)器成(cheng)像(xiang)并轉換(huan)成(cheng)圖(tu)像(xiang)信息，其圖(tu)像(xiang)表現為灰度圖(tu)像(xiang)，不(bu)同物(wu)料(liao)(liao)或異(yi)(yi)物(wu)的(de)(de)灰度不(bu)同，通過(guo)預(yu)設(she)的(de)(de)算法處(chu)理及(ji)圖(tu)形圖(tu)像(xiang)技術分析后(hou)將異(yi)(yi)物(wu)從(cong)被(bei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)產(chan)品(pin)中分離出(chu)來，泰一(yi)明X光異(yi)(yi)物(wu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機(ji)，基于實時系統獨有的(de)(de)高(gao)(gao)速(su)處(chu)理算法，集合韓國電(dian)子工業的(de)(de)技術基礎而研制出(chu)的(de)(de)高(gao)(gao)性能X射線(xian)異(yi)(yi)物(wu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機(ji)。