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原理：利用(yong)被(bei)檢測(ce)產品中的(de)不(bu)同物(wu)料(liao)(liao)受X射(she)線(xian)照射(she)后(hou)的(de)吸(xi)收(shou)率(lv)不(bu)同，經由探(tan)測(ce)器(qi)成像并轉換(huan)成圖(tu)像信息，其圖(tu)像表現為(wei)灰(hui)度圖(tu)像，不(bu)同物(wu)料(liao)(liao)或(huo)異物(wu)的(de)灰(hui)度不(bu)同，通過預設(she)的(de)算法處(chu)理及圖(tu)形圖(tu)像技(ji)術分析后(hou)將異物(wu)從被(bei)檢測(ce)的(de)產品中分離出來，泰一明(ming)X光異物(wu)檢測(ce)機，基于實時系統獨有的(de)高速(su)處(chu)理算法，集合韓國電(dian)子工業的(de)技(ji)術基礎而研制(zhi)出的(de)高性能(neng)X射(she)線(xian)異物(wu)檢測(ce)機。
