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（86）
原理：利用被檢(jian)測產品(pin)中的(de)不同物(wu)料受X射(she)(she)線照射(she)(she)后(hou)的(de)吸(xi)收率(lv)不同，經由(you)探(tan)測器成像(xiang)并(bing)轉(zhuan)換(huan)成圖像(xiang)信息，其(qi)圖像(xiang)表現為灰度圖像(xiang)，不同物(wu)料或異物(wu)的(de)灰度不同，通(tong)過(guo)預設的(de)算(suan)法處(chu)(chu)理及圖形(xing)圖像(xiang)技(ji)術分(fen)析后(hou)將(jiang)異物(wu)從被檢(jian)測的(de)產品(pin)中分(fen)離出(chu)來(lai)，泰(tai)一(yi)明X光異物(wu)檢(jian)測機，基于實時系統獨(du)有的(de)高(gao)速處(chu)(chu)理算(suan)法，集合韓國(guo)電子工(gong)業的(de)技(ji)術基礎而研制(zhi)出(chu)的(de)高(gao)性能X射(she)(she)線異物(wu)檢(jian)測機。
