原理：利(li)用被檢測產品中的(de)(de)(de)不同物(wu)(wu)(wu)(wu)料受X射(she)線照射(she)后的(de)(de)(de)吸收率不同，經由探測器成(cheng)像并轉換成(cheng)圖(tu)(tu)像信息，其圖(tu)(tu)像表現為灰(hui)度圖(tu)(tu)像，不同物(wu)(wu)(wu)(wu)料或異(yi)(yi)物(wu)(wu)(wu)(wu)的(de)(de)(de)灰(hui)度不同，通過預設(she)的(de)(de)(de)算法(fa)處(chu)理及圖(tu)(tu)形(xing)圖(tu)(tu)像技(ji)術分(fen)析后將異(yi)(yi)物(wu)(wu)(wu)(wu)從(cong)被檢測的(de)(de)(de)產品中分(fen)離(li)出來，泰一(yi)明X光異(yi)(yi)物(wu)(wu)(wu)(wu)檢測機(ji)，基于實時系統獨(du)有的(de)(de)(de)高速處(chu)理算法(fa)，集合韓國電子工業的(de)(de)(de)技(ji)術基礎而研(yan)制(zhi)出的(de)(de)(de)高性能(neng)X射(she)線異(yi)(yi)物(wu)(wu)(wu)(wu)檢測機(ji)。