原理：利用被檢(jian)測(ce)產品(pin)中(zhong)(zhong)的(de)(de)不(bu)同(tong)(tong)物(wu)(wu)料(liao)受X射(she)(she)線照射(she)(she)后的(de)(de)吸收(shou)率(lv)不(bu)同(tong)(tong)，經由探測(ce)器成(cheng)像(xiang)(xiang)并轉換成(cheng)圖(tu)像(xiang)(xiang)信息，其圖(tu)像(xiang)(xiang)表現為(wei)灰(hui)度(du)圖(tu)像(xiang)(xiang)，不(bu)同(tong)(tong)物(wu)(wu)料(liao)或異物(wu)(wu)的(de)(de)灰(hui)度(du)不(bu)同(tong)(tong)，通過預設的(de)(de)算(suan)法處理及圖(tu)形(xing)圖(tu)像(xiang)(xiang)技(ji)術分析后將異物(wu)(wu)從被檢(jian)測(ce)的(de)(de)產品(pin)中(zhong)(zhong)分離出(chu)(chu)來，泰(tai)一明X光異物(wu)(wu)檢(jian)測(ce)機，基于實時系統獨有的(de)(de)高速處理算(suan)法，集合韓國電子工業的(de)(de)技(ji)術基礎而研制出(chu)(chu)的(de)(de)高性能(neng)X射(she)(she)線異物(wu)(wu)檢(jian)測(ce)機。