原理：利用(yong)被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)產品中的(de)(de)不(bu)(bu)同物料(liao)受X射(she)線照射(she)后的(de)(de)吸(xi)收率不(bu)(bu)同，經由探測(ce)器成(cheng)像(xiang)并轉換成(cheng)圖(tu)像(xiang)信息(xi)，其圖(tu)像(xiang)表(biao)現(xian)為灰度圖(tu)像(xiang)，不(bu)(bu)同物料(liao)或異物的(de)(de)灰度不(bu)(bu)同，通過預設的(de)(de)算法(fa)處(chu)理及圖(tu)形圖(tu)像(xiang)技(ji)術(shu)分析后將異物從(cong)被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)產品中分離出來，泰一明(ming)X光異物檢(jian)(jian)(jian)測(ce)機(ji)，基(ji)(ji)于實時(shi)系統獨有的(de)(de)高(gao)速(su)處(chu)理算法(fa)，集(ji)合(he)韓國(guo)電子(zi)工業的(de)(de)技(ji)術(shu)基(ji)(ji)礎而研制出的(de)(de)高(gao)性能X射(she)線異物檢(jian)(jian)(jian)測(ce)機(ji)。