原理：利用被(bei)(bei)檢(jian)測產品(pin)中的(de)(de)(de)不(bu)(bu)同(tong)(tong)物(wu)(wu)料(liao)受X射線照射后的(de)(de)(de)吸收率不(bu)(bu)同(tong)(tong)，經由探測器成像(xiang)并轉換成圖(tu)像(xiang)信(xin)息，其圖(tu)像(xiang)表現為灰度(du)圖(tu)像(xiang)，不(bu)(bu)同(tong)(tong)物(wu)(wu)料(liao)或異物(wu)(wu)的(de)(de)(de)灰度(du)不(bu)(bu)同(tong)(tong)，通過預設的(de)(de)(de)算(suan)法處理(li)及(ji)圖(tu)形(xing)圖(tu)像(xiang)技術分(fen)(fen)析(xi)后將異物(wu)(wu)從被(bei)(bei)檢(jian)測的(de)(de)(de)產品(pin)中分(fen)(fen)離出來，泰一明X光異物(wu)(wu)檢(jian)測機，基于實時(shi)系統獨有的(de)(de)(de)高(gao)速處理(li)算(suan)法，集合韓(han)國電子工業的(de)(de)(de)技術基礎而研制出的(de)(de)(de)高(gao)性能X射線異物(wu)(wu)檢(jian)測機。