原理：利用被檢(jian)測(ce)產品中(zhong)的(de)(de)不(bu)同(tong)物(wu)料(liao)受(shou)X射(she)(she)線照射(she)(she)后的(de)(de)吸收率(lv)不(bu)同(tong)，經由探(tan)測(ce)器成像并轉(zhuan)換成圖(tu)(tu)像信息，其(qi)圖(tu)(tu)像表現為灰度圖(tu)(tu)像，不(bu)同(tong)物(wu)料(liao)或(huo)異(yi)物(wu)的(de)(de)灰度不(bu)同(tong)，通(tong)過預設的(de)(de)算法(fa)處(chu)理及圖(tu)(tu)形圖(tu)(tu)像技(ji)術分析后將異(yi)物(wu)從被檢(jian)測(ce)的(de)(de)產品中(zhong)分離出(chu)來(lai)，泰一明(ming)X光異(yi)物(wu)檢(jian)測(ce)機，基(ji)于實時(shi)系統獨有(you)的(de)(de)高速(su)處(chu)理算法(fa)，集合(he)韓國(guo)電子工業的(de)(de)技(ji)術基(ji)礎(chu)而研制出(chu)的(de)(de)高性(xing)能X射(she)(she)線異(yi)物(wu)檢(jian)測(ce)機。