原理：利用被檢測(ce)產(chan)(chan)品(pin)中的(de)(de)不(bu)同(tong)物料受X射(she)線照(zhao)射(she)后的(de)(de)吸收率不(bu)同(tong)，經由探測(ce)器成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)并(bing)轉換成(cheng)(cheng)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)信息，其圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)表(biao)現為(wei)灰度圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)，不(bu)同(tong)物料或異物的(de)(de)灰度不(bu)同(tong)，通過預設的(de)(de)算(suan)法處(chu)理及圖(tu)(tu)形圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)技(ji)(ji)術分析后將異物從被檢測(ce)的(de)(de)產(chan)(chan)品(pin)中分離出來(lai)，泰一明X光異物檢測(ce)機，基于實時(shi)系統獨有(you)的(de)(de)高速處(chu)理算(suan)法，集合韓國電子工業的(de)(de)技(ji)(ji)術基礎而研制出的(de)(de)高性能X射(she)線異物檢測(ce)機。