原理：利用被檢測(ce)(ce)(ce)產(chan)品中(zhong)的(de)(de)不同物(wu)(wu)(wu)料受X射線照射后(hou)的(de)(de)吸收率不同，經由探測(ce)(ce)(ce)器成像(xiang)并轉(zhuan)換(huan)成圖像(xiang)信息，其(qi)圖像(xiang)表現(xian)為灰度圖像(xiang)，不同物(wu)(wu)(wu)料或異(yi)物(wu)(wu)(wu)的(de)(de)灰度不同，通過(guo)預設的(de)(de)算(suan)法處(chu)理及(ji)圖形圖像(xiang)技術分析后(hou)將異(yi)物(wu)(wu)(wu)從被檢測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)產(chan)品中(zhong)分離(li)出(chu)來(lai)，泰一明X光異(yi)物(wu)(wu)(wu)檢測(ce)(ce)(ce)機，基(ji)于(yu)實(shi)時系統獨有的(de)(de)高速處(chu)理算(suan)法，集合韓國電子(zi)工(gong)業的(de)(de)技術基(ji)礎而(er)研制出(chu)的(de)(de)高性能X射線異(yi)物(wu)(wu)(wu)檢測(ce)(ce)(ce)機。