原理:利用被檢測產品中的不同物料受X射線照射后的吸收率不同,經由探測器成像并轉換成圖像信息,其圖像表現為灰度圖像,不同物料或異物的灰度不同,通過預設的算法處理及圖形圖像技術分析后將異物從被檢測的產品中分離出來,泰一明X光異物檢測機,基于實時系統獨有的高速處理算法,集合韓國電子工業的技術基礎而研制出的高性能X射線異物檢測機。
原理:利用被檢測產品中的不同物料受X射線照射后的吸收率不同,經由探測器成像并轉換成圖像信息,其圖像表現為灰度圖像,不同物料或異物的灰度不同,通過預設的算法處理及圖形圖像技術分析后將異物從被檢測的產品中分離出來,泰一明X光異物檢測機,基于實時系統獨有的高速處理算法,集合韓國電子工業的技術基礎而研制出的高性能X射線異物檢測機。
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